Обладнання з допоміжним іонним-осадженням тонкої плівки серії IA-поєднує теплове випаровування електронним-променем із джерелом іонів Кауфмана або Енд-Холла. Енергійне іонне бомбардування (суміш аргон/кисень) під час осадження передає імпульс адатомам, усуваючи стовпчасті порожнечі, пригнічуючи поглинання вологи та стабілізуючи показники заломлення. Розроблена для високо{6}}точних досліджень і розробок і безперервного виробництва, камера з нержавіючої-сталі підтримує базовий тиск нижче 5 x 10^-6 Па для отримання щільних стехіометричних тонких плівок для оптики, датчиків і напівпровідників.
Технічні характеристики
|
Параметр |
Деталі специфікації |
|
Розміри камери |
Phi 800 мм x 700 мм (можна налаштувати до Phi 1200 мм) |
|
Базовий тиск |
<= 5.0 x 10^-6 Pa (Achieved within 40 minutes from atmosphere) |
|
Робочий тиск |
1,0 x 10^-2 Па до 8,0 x 10^-1 Па |
|
Джерела випаровування |
Мульти-кишеньковий електро-пістолет (6 x 15 cc або 4 x 40 cc) із керуванням стрільбою |
|
Тип джерела іонів |
Мережа-на основі Кауфмана / Енд-Холла (енергія іонів: 50 - 1500 еВ) |
|
Кріплення для підкладки |
Обертання планети (0 - 25 RPM) з нагрівачем (RT - 350 град.C) |
|
Контроль товщини |
Дво-канальний кварцовий монітор (QCM) / Опція оптичного моніторингу |
|
Насосна система |
Турбомолекулярна магнітна левітація + Рутс + роторно-лопатевий опорний насос |
Ключові характеристики
Ущільнення мікроструктури:Одночасне іонне бомбардування підвищує щільність упаковки поблизу об’ємних значень за рахунок руйнування меж зерен.
Внутрішній контроль стресу:Регульоване співвідношення іонів-до-прибуття атомів запобігає розшаруванню плівки на крихких підкладках (кремній, германій, плавлений кремнезем).
Покращена адгезія:Попереднє очищення за допомогою іонного травлення видаляє природні оксиди та поверхневі забруднення перед осадженням.
Автоматизація замкнутого-циклу:Архітектура ПЛК автоматизує послідовність вакууму, приведення в дію затвора, підвищення потужності та газові МФУ.
Теплоізоляція:Стінки-камери з водяним охолодженням і радіаційні екрани захищають підкладки від-випромінювання вогнища.
Конфігурація вакуумної системи
Високо-вакуумний насос:Турбомолекулярний насос магнітної левітації (1600 л/с для N2) для-безмасляної роботи.
Чорнова стадія:Поворотна лопатка-з прямим приводом у поєднанні з повітродувкою Roots для швидкого переходу.
Ущільнення та клапани:Пневматичні засувки з ущільнювачами з вітоном/металом-.
Блокування:Манометри Пірані та з холодним катодом, інтегровані в схеми захисту від надлишкового тиску.
Сумісність матеріалів
Матеріали для випаровування:
Оксиди (SiO2, Ta2O5, TiO2, Nb2O5)
Фториди (MgF2, YF3)
Тугоплавкі метали (Ti, Cr, Al)
Матеріали підкладки:
Плавлений кремнезем, оптичне скло, ZnSe, кремнієві пластини, GaAs, нержавіюча сталь.
Додатки
Прецизійна оптика:Анти{0}}покриття, смугові фільтри та дзеркала з високим-відбиттям для лазерних і телекомунікаційних систем DWDM.
ІЧ вікна:Захисні довговічні анти{0}}відбиваючі плівки на германієвій і кремнієвій тепловізійній оптиці.
Напівпровідники:Діелектричні ізоляційні плівки та металеві контактні пасиваційні шари.
Оптоелектроніка:Прозорі електропровідні оксидні шари для датчиків і плоских панелей.
Параметри налаштування
Геометрія камери:Індивідуальні розміри конвертів для спеціалізованих виробничих пристосувань або широкоформатної-оптики.
Інтеграція джерела:Конфігурації подвійної електронної -гармати, термостійкі човни або джерела реактивного термічного крекінгу.
Автоматизація:SECS/GEM-сумісні-пакети програмного забезпечення для виробництва.
Пристосування для підкладки:Спеціальні тримачі для вигнутих лінз, мікро-призм або 300-міліметрових пластин.
Контроль якості та заводські випробування
Стандарти відповідності:Створено відповідно до вимог чистих приміщень CE та SEMI S2/S8.
Виявлення витоку:Тестування гелієвим мас-спектрометром усіх зварних швів (швидкість витоку<= 1 x 10^-10 Pa*m^3/s).
Записати-в:72 години безперервної сухої роботи механічних проходів і блокувань.
Перевірка однорідності:Спектрофотометричний аналіз, що підтверджує розподіл товщини в межах +/- 1% по тримачу.
Встановлення, час виконання та технічна підтримка
Графік доставки:Стандартний час виготовлення, FAT і упаковки в ящики становить від 16 до 20 тижнів після технічного підпису- та депонування.
Підготовка місця:Попередньо наданий вичерпний посібник з експлуатації (із зазначенням потоку охолодженої води, потужності 380 В і стисненого повітря).
Введення в експлуатацію:В-встановлення на місці, калібрування та налаштування процесу старшими інженерами.
Підтримка життєвого циклу:Наявність критичних запасних частин (нитки розжарення, кристали кварцу, комплекти ущільнювачів) для швидкої доставки.
Часті запитання
З: Який інтервал технічного обслуговування для сітки джерела іонів?
A: Очищення сітки та заміна нитки розжарювання відбуваються кожні 150-300 годин роботи, залежно від реактивних газів. Конструкції зі швидким-вивільненням дозволяють замінювати менш ніж за 30 хвилин.
З: Як іонно{0}}осадження (IAD) впливає на оптичні покриття?
A: IAD усуває зміщення вологи шляхом руйнування стовпчастих конструкцій. Наприклад, плівки SiO2 зберігають стабільний показник заломлення 1,46 у вологому середовищі.
З: Чи безпечно керувати процесами реактивного газу?
A: Так. Контролери масового потоку регулюють впорскування O2 або N2 безпосередньо в джерело іонів за допомогою автоматичних-запобіжних клапанів і циклів продування.
З: Які вимоги до комунальних послуг?
A: Chilled cooling water (>= 50 л/хв, 18 - 22 град.C), стиснене повітря (0.4 - 0.6 МПа) і спеціальне 3-фазне електроживлення.
Популярні Мітки: обладнання для йонного-нанесення тонкої плівки, Китай, виробники, постачальники, фабрика обладнання для йонного-нанесення тонкої плівки

